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一、渡层厚度检测仪Ux-720描述：

Ux-720新一代国产专业镀层厚度检测J 仪，采用高分辨率的Si-PIN (或者SDD硅漂移探测器) ，测量精度和测量结果良好.采用了FlexFP-Multi技术，无论是生产过程中的质量控制，还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检租金检，我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。

二、渡层厚度检测仪Ux-720特性：

Ux-720微移动平台和高清CCD搭配，旋钮调节设计在壳体外部，观察移动位置简单方便.

X射线荧光技术测试镀层厚度的应用，提高了大批量生产电镀产晶的检验条件，无损、快速和更准确的特点，对在电子和半导体工业中晶质的提升高了检验的保障.

Ux-720镀层测厚仪采用了华唯专利技术FlexFp -Multi .不在受标准样昂的限制，在无镀层标样的情况下直接可以测试样昂的镀层厚度，测试结果经得起科学验证。

三、渡层厚度检测仪Ux-720产品指标：

测厚技术X射线荧光测厚技术
测试样晶种类金属镀层，合金镀层
测量下限0.003um
测量上限。30-50um (以材料元素判定)
测量层数。10层
测量用时30-120秒
探测器类型Si-PIN 电制冷
探测器分辨率145eV
高压范围: 0-50KV , 50W
X光筐参数: 0-50KV , 50W ，侧窗类;
光管靶材:Mo靶;
虑光片专用3种自动切换，
CCD观察260万像素
微移动范围: XY15mm
输入电压AC220V , 50/60Hz
测试环境。非真空条件
数据通讯USB2 . 0模式
准直器:1mm ，2mm ，4mm
软件方法:FlexFP-M u Iti
工作区开放:工作区自定义
样品腔:330x360x100mm

咨询热线：0755-83289071